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產品描述
型號:LEI-1510EB
生產廠家:美國蘆華電子科技有限公司
啟用日期:2019.05
儀器簡介:
- 方阻測試范圍包括: HI:15Ω/sq-3000Ω/sq;
LO:0.2Ω/sq-15Ω/sq;
XL: 0.035Ω/sq-1.5Ω/sq;
- 方阻值線性偏差小于±3%;
- 可實現最多300個點的mapping掃描;可分別輸出2D和3D mapping結果;
可手動編輯mapping測試點分布位置;
- 可進行循環重復性測試,重復測試結果離散系數小于0.55。
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