紫外可見近紅外分光光度計
型號：UH4150
生產廠家：日立（中國）有限公司
啟用日期：2020.04
設備參數：
1. 平行準直光束非聚焦光束，實現高精準的反射與透射測量；
2. 光源的光斑可根據需求調節，滿足不同尺寸樣品的測試；
3. 大樣品室光學平臺: 680 (W) × 470 (D) × 300(H) mm; 可放置430mm × 430mm大樣品;
4. 雜散光：0.00008%（NaI，220nm，10g/L,10mm池），0.00005%（NaNO2，340nm，10g/L,10mm池），0.025%（氯仿，1690nm, 10mm池）
5. 波長范圍：185~3300nm；
6. 光度計范圍：Abs：-2~5.0 Abs ；
7. 波長顯示：0.01nm步進；
8. 狹縫寬度
(a)紫外/可見區域：自動控制方式和0.01nm (0.02nm)步進轉換在0.07-8.0nm之間；
(b)近紅外區域：自動控制方式和0.1nm步進轉換在0.18-20nm之間；
9. 波長準確性：±0.2nm（紫外/可見區），±1.0nm(近紅外區) 自動波長校正；
10.波長重現性：±0.1nm（紫外/可見區），±0.5nm(近紅外區)。
測光方式：雙光束直接比例測光方式（采用日立獨特的微分反饋方式進行負吸光度或者是100%以上透過率/反射率的測量）紫外可見區：負高壓控制方式和狹縫控制方式；近紅外區：狹縫控制方式和固定狹縫方式。
設備應用： 液體、渾濁液體、固體均可適用?？蓪崿F包括粉末、玻璃、光學薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學、電子設備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應用于半導體、光學元件、光電設備、新型材料的光譜性能研究，獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數據。
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